Sistema de prueba de efecto Hall

Sistema de prueba de efecto Hall

Descripción general del producto

El sistema de prueba de efecto Hall es un sistema integrado de software aplicado a la medición de alta precisión de diversos materiales semiconductores.

Basic Information

Número de producto	HALL	Entorno de trabajo	Windows98 / ME / 2000 / NT/XP environment
Requisitos de energía	/	Modo de control	/
Dimensiones del producto	/	Peso del equipo	/

Dirección de aplicación

Características técnicas

Características del producto

● Estación de prueba keithley líder en el sector
● Medidor de fuente de ultra alta precisión para mediciones precisas
● Diseño modular, rendimiento estable y fácil mantenimiento
● Ricas funciones de software, operación conveniente y flexible
● Interfaz visualizada para un análisis claro de los datos
● Entorno de alta y baja temperatura, realizando eficazmente la prueba de confiabilidad

Model HALL series
Specification

Brief introduction	This system is integrated with Keithley 2400 / 2600 series high precision source meter and Semishare Polaris high and low temperature platform. It is designed by using The Van Der Pauw Law for high precision measurement of the carrier types of semiconductor materials (P type / N type),Carrier concentration, Mobility ratio, Resistivity, Hall coefficient and other parameters test, Can be applied to various materials such as Si,SiGe,SiC,GaAs, InGaAs,InP,GaN etc.
Software operating system	Under the environment of Windows 98 / ME / 2000 / NT / Xp
	Effective current output range	6nA~100mA
	Effective voltage measurement range	-5~5V
	Carrier concentration(/cm3)	10⁷ – 10²¹
	Mobility (cm2/Vs)	1~10⁷
	Resistivity (Ohm.cm)	10^-4 - 10⁷
	A/B ratio	Ok
	RHD(cm3/C)	Ok
	RHC(cm3/C)	Ok
	RH(cm3/C)	Ok
	Sheet Resistance(Ohm)	Ok
	Temperature	Temperature (k): normal temperature and 77k , two temperature points
		Option: 77k~500k 0. 1 degrees Celsius accuracy, can be set by software
Instrument size and weight	Mainframe size	H: 89mm × W: 213mm × L: 370mm
	Weight	3.21KG
Working environment requirements	0°–50°C, 70%R.H.
Storage environment requirements	–25°C to 65°C
Dimention of the Van der pauw rule terminal converter	200×120×110 mm (W×H×D)
Net weight	7.7KG
Measuring material	All semiconductor films such as Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (p-type and n-type)
Characteristic
Keithley test platform	Feature-rich software
Ultra-high precision source meter	User friendly UI
Modular design	High and low temperature environment

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Estación de sonda