Sistema de prueba de efecto Hall
El sistema de prueba de efecto Hall está integrado con el medidor de fuente de alta precisión Keithley serie 2400/2600 y la estación de alta y baja temperatura Semishare polaris, utilizando el diseño de la ley de Vanderbilt, aplicado a la medición de alta precisión del tipo de portador de materiales semiconductores (tipo P/tipo N), concentración de portador, movilidad, resistividad, coeficiente Hall y otros parámetros, se puede aplicar a Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN y otros materiales semiconductores.