Tecnología y soluciones
La prueba de obleas (CV IV P - IV) se utiliza ampliamente para medir parámetros de semiconductores, especialmente la estructura MOSFET a nivel de oblea. El uso de mediciones CV P - IV IV también puede ser útil para el análisis de características de otros tipos de dispositivos y procesos semiconductores, incluidos los transistores de unión bipolar (BJT), dispositivos JFET, células fotovoltaicas orgánicas, dispositivos MEMS, monitores TFT, fotodiodos, nanotubos de carbono y las características básicas de una variedad de otros dispositivos semiconductores. Es muy adecuado para diversas aplicaciones, mejora el rendimiento del proceso y las pruebas de dispositivos, así como para la medición de parámetros de proceso y el análisis de mecanismos de falla.
En los últimos años, nuestro país ha reconocido la importancia de la industria de semiconductores y la fortaleza de los recursos disponibles, siendo la actualización del hardware de los laboratorios universitarios uno de los aspectos clave. Sin embargo, debido a que la asignación de recursos en las universidades se orienta principalmente por razones de costo, debemos asegurar que, bajo condiciones de presupuesto limitado, no solo se garantice que los equipos cuenten con altos estándares de precisión para pruebas y mediciones, sino que también se tenga en cuenta la reutilización futura de los productos. Es necesario evitar el desperdicio de recursos y, a través de la experiencia acumulada en el mercado y la cooperación con universidades, resumir los indicadores que deben tener los dispositivos de prueba para los experimentos educativos.
● Basado en los requisitos del entorno de laboratorio universitario, el equipo puede ahorrar espacio sin comprometer la precisión de las pruebas.
● Bajo la premisa de no reducir la calidad de los estándares de prueba profesional, podemos ofrecer equipos de mesa de prueba con precios más competitivos.
● Más fácil de operar
● Minimizar la carga de trabajo en la formación operativa
● Estructura estable y alta precisión en las pruebas
● Adquisición rápida de datos de medición
● Personalización modular, fácil reconfiguración y actualización para una amplia variedad de aplicaciones.
● Gran adaptabilidad, cuando sea necesario mejorar y aumentar, se puede actualizar el equipo y expandir funciones.
Pruebas I - V, C - V, P - IV de oblea de 6 pulgadas.
Medición del punto de electrodo superior a 40 micras, precisión de fuga dentro de 10pA.
