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Tecnología y soluciones

Un método y equipo para mejorar la precisión del contacto entre la sonda y los puntos de prueba del wafer

Un método y equipo para mejorar la precisión del contacto entre la sonda y los puntos de prueba del wafer


Antecedentes técnicos


Desafíos


Resumen técnico

Nombre de la tecnología: Tecnología High-accuracy Contact™ 

Tipo de patente: Patente de invención

Número de patente: 2021108935892

Tecnología High-accuracy Contact™ se refiere a un método para mejorar la precisión del contacto entre la sonda y los puntos de prueba del wafer, determinando la relación de posición entre cada punto de la sonda y cada punto de prueba en los ejes X y Y. La tarjeta de sonda y el primer sistema visual permanecen siempre en un estado fijo, lo que evita la inestabilidad en la precisión del movimiento de la sonda, mejorando la precisión de alineación entre la sonda y los puntos de prueba.


Resumen técnico

  • Nanyang Technological University
  • SEMISHARE X8  Semi-Automatic Probe Station