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Solutions de station de sonde

Application

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Il couvre l'ensemble des applications de test et de mesure, du laboratoire à la fabrication de plaquettes.

Liaison de test de semi-conducteur, comprenant principalement la vérification de la conception de la puce dans la conception d'une station de test de plaquette de fabrication de plaquettes (CP) et d'emballage du produit fini (FT) La station de sonde de test est utilisée pour le traitement des plaquettes après la liaison de test CP avant le processus d'encapsulation, responsable du transport et du positionnement des plaquettes, pour garantir que de la surface de la plaquette à l'instrument de précision un signal plus stable, faire en sorte que le grain sur la plaquette, à son tour, entre en contact avec la sonde et les tester un par un, pour obtenir une sonde de test de données plus précise mesurant l'équipement de test des semi-conducteurs, y compris les machines de test et le séparateur La machine de test est utilisée dans toutes les liaisons de test, différentes liaisons doivent être utilisées en conjonction avec le séparateur ou la table de sonde.

探针台应用概述
Client Object
01

Éducation technologique

Institut de recherche
02

Recherche expérimentale

Laboratoire
Institut de recherche
Institution de test professionnelle
Entreprise de conception de puces
03

Fabrication commercial

Usine de fabrication
Usine de test d'étanchéité
Usine de fabrication de panneaux
Direction d'application

Nous transformerons les concepts innovants des clients en résultats réels, réaliserons des analyses de test et de mesure précises et fiables, aiderons à la mesure précise et analyserons et jugerons les performances des dispositifs de plaquettes, y compris la fourniture de matériaux/composants/tests caractéristiques CV IV de LD/PD/test d'intensité lumineuse LED/longueur d'onde, caractéristiques de l'analyse des défaillances des dispositifs radiofréquence, test de puce de câblage interne/électrode/PAD et ainsi de suite des solutions techniques.

  • Integrated circuit (IC) direction

    ● Wafer Testing
    ● Chip Line Modification
    ● Failure Analysis
    ● Chip Reverse Photography
  • PCB direction

    ● PCB printed circuit board electrical test
  • Maskdirection

    ● Mask defect repair
  • LED direction

    ● Test the photoelectric efficiency of the battery
    ● EL test
    ● Electrical performance test
  • Photovoltaic (PV) solar direction

    ● Draw/line the solar cells
  • FPD direction

    ● LCD,OLED highlights/line repair
    ● Panel Probe Test
  • Touch Panel direction

    ● Touch screen ITO short circuit laser repair
    ● Laser ablation
Solution de mesure intégrée

Nous aidons les clients à mieux optimiser leur processus de test, à gagner constamment la confiance des clients, grâce à des années d'expérience avec des partenaires, nous avons traduit beaucoup d'expérience technique dans les cas de réussite réels du marché et avons progressivement formé des solutions de mesure de test plus professionnelles.

Découvrez certaines de nos solutions