Société Fabricante de Machines à Sonder les Wafers

Stations de sonde manuelles intégrées de la série H

Il convient à la recherche scientifique et à l'analyse de dispositifs micro et nano, au contrôle ponctuel et à la détection, etc.

Stations de sonde manuelles intégrées de la série H

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Stations de sonde à haute/basse température de la série C

La testabilité à basse température dans un environnement non sous vide à haute et basse température, jusqu'à -100.

Stations de sonde à haute/basse température de la série C

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Stations de sonde d'analyse des défaillances de la série FA

La série FA de bancs de sondes est un équipement de mesure spécialement conçu pour les laboratoires d'analyse des défaillances. Il possède des caractéristiques optiques et laser, une structure d'équipement stable, des performances système excellentes, un design ergonomique, une utilisation pratique, un support de mise à niveau multifonction et des fonctions de produit riches et complètes.

Stations de sonde d'analyse des défaillances de la série FA

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Station de sonde laser des panneaux TEG

La station de sonde laser des panneaux de la série TEG est un équipement d'application de test automatique, principalement utilisé pour analyser le circuit TEG de l'écran LCD, tester les paramètres électriques et réaliser une automatisation complète ; ce produit peut analyser et juger rapidement et précisément les performances de l'échantillon, et réparer davantage les défauts de l'échantillon, ce qui permet d'améliorer considérablement le taux de produits qualifiés et les avantages économiques pour les entreprises.

Station de sonde laser des panneaux TEG

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Stations de sonde entièrement automatiques de la série A

Tests des plaquettes, analyse des caractéristiques (telles que : I-V, C-V, signaux optiques, RF et bruit 1/f) de divers dispositifs et plaquettes, tests RF, etc.

Stations de sonde entièrement automatiques de la série A

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Stations de sonde manuelles compactes de la série M

Largement utilisé dans les tests I-V/C-V, les tests RF/mmW, les tests à haute puissance et courant élevé, les tests de dispositifs MEMS et optoélectroniques, l'analyse des défaillances au niveau des plaquettes, les tests de Hall, etc.

Stations de sonde manuelles compactes de la série M

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Stations de sonde manuelles améliorées de la série E

Tests d'intensité lumineuse/longueur d'onde des LD/LED/PD, tests des diodes et des transistors de plaquette, tests des composants PCB, tests de caractéristiques IV/CV des matériaux/dispositifs, tests des dispositifs de puissance, tests des dispositifs MEMS, tests RF, etc.

Stations de sonde manuelles améliorées de la série E

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Stations de sonde semi-automatiques de la série X

X series is an integrated and highly efficient semi-automatic wafer probe platform that is specialized in testing the performance of various advanced chips.

Stations de sonde semi-automatiques de la série X

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Stations de sonde semi-automatiques sous vide à haute/basse température de la série CGX

La station de sonde semi-automatique sous vide à haute/basse température CGX de SEMISHARE est spécialement conçue pour la R&D et les applications de production spécifiques. Elle permet de réaliser rapidement des tests de haute précision sur des plaquettes individuelles dans un environnement sous vide à une température de : 77 K à 450 K (azote liquide) et de 10 K à 450 K (hélium liquide).

Stations de sonde semi-automatiques sous vide à haute/basse température de la série CGX

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Stations de sonde sous vide à haute/basse température de la série CG

Les stations de sonde sous vide à haute/basse température de la série CG sont une réalisation innovante de SEMISHARE après des années d'accumulation de technologie, et elles sont également les premières stations de sonde sous vide à haute/basse température de la Chine développées et lancées indépendamment par SEMISHARE. Ces stations permettent de tester avec précision la puissance électrique, l'intensité lumineuse, la longueur d'onde, le champ magnétique des échantillons dans un environnement sous vide à haute/basse température. Elles exploitent leurs atouts technologiques dans les domaines de l'ultra-basse température, de l'ultra-vide, du contrôle automatique et de la simulation laser.

Stations de sonde sous vide à haute/basse température de la série CG

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Stations de sonde

Systèmes d'essai

Machines de réparation laser

Services de test

Accessoires pour stations de sonde

Stations de sonde

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Accessoires pour stations de sonde

Solutions de station de sonde

Produits

Stations de sonde manuelles intégrées de la série H

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Stations de sonde à haute/basse température de la série C

Stations de sonde à haute/basse température de la série C

Stations de sonde d'analyse des défaillances de la série FA

Stations de sonde d'analyse des défaillances de la série FA

Station de sonde laser des panneaux TEG

Station de sonde laser des panneaux TEG

Stations de sonde entièrement automatiques de la série A

Stations de sonde entièrement automatiques de la série A

Stations de sonde manuelles compactes de la série M

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Stations de sonde manuelles améliorées de la série E

Stations de sonde manuelles améliorées de la série E

Stations de sonde semi-automatiques de la série X

Stations de sonde semi-automatiques de la série X

Stations de sonde semi-automatiques sous vide à haute/basse température de la série CGX

Stations de sonde semi-automatiques sous vide à haute/basse température de la série CGX

Stations de sonde sous vide à haute/basse température de la série CG

Stations de sonde sous vide à haute/basse température de la série CG