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Solutions de station de sonde

Aperçu

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Accélérer l’innovation et continuer à relever des défis

L’ère plus difficile des puces nécessite des équipements de test et de mesure plus performants

La technologie évolue chaque jour et les frontières technologiques dans des domaines clés tels que les communications 5G, l'aérospatiale, la conduite sans pilote, l'intelligence artificielle et le big data sont constamment dépassées par l'innovation. Dans le même temps, les exigences en matière de performances des puces sont de plus en plus élevées. plus élevé, ce qui rend les tests au niveau des tranches plus difficiles. Il est également devenu plus complexe dans le processus de développement et de production des puces, du laboratoire à l'usine de tranches, comment accélérer la vitesse de lancement du produit est devenu crucial. Système de mesure pour terminer rapidement et avec précision les travaux de test des plaquettes.


Application du produit pour la transformation technologique

SEMISHARE Technology, en tant que fabricant de stations de sonde avancées dans le domaine des équipements de test mondiaux de semi-conducteurs, basé sur des recherches à long terme sur la technologie de test de sondes de tranches, nous travaillons avec nos clients pour relever les défis techniques clés du processus de semi-conducteurs et collaborons avec les clients dans développement et quantité des puces Effectuer une optimisation technique et des améliorations de la production. Dans le domaine des stations de sonde, nous nous engageons à transmettre des signaux plus stables des instruments de précision à la surface de la plaquette pour obtenir des résultats de mesure plus précis. Jusqu'à présent, nous avons appliqué un certain nombre de technologies à nos produits. Nous fournissons non seulement des sondes. stations, mais également fournir des solutions technologiques avancées de test de plaquettes .


  • Technologie de mesure entièrement automatique pour station de sondage

    Technologie Haute Performance™

    La technologie Haute Performance™ offre une station de sondage de tranche entièrement automatique et un équipement de test de tranche entièrement automatique hautement stables. Grâce à une structure stable multi-renforcée du sondeur de tranche entièrement automatique, elle résout le problème des équipements

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  • Technologie de mesure de station de sonde semi-automatique

    ThreeInone™ Technology

    ThreeInone™ technology provides a high-stability probe bench and semi-automatic wafer testing equipment. Through the stable structure of low center of gravity, the problem that the equipment is easy to shake and affect the test accuracy in wafer test

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  • Technologie de test en environnement sous vide à hautes et basses températures.

    Technologie des Conditions Spéciales™

    Avec le développement de la technologie aérospatiale, certains dispositifs semi-conducteurs de haute fiabilité et de haute performance, en particulier les composants centraux de l'aérospatiale, sont devenus un symbole important du niveau de science et de technologie aérospatiale d'un pays. Cependant, en raison de la faible base de l'industrie des circuits intégrés en Chine, les dispositifs semi-conducteurs dépendent principalement des importations. Non seulement le coût des importations est élevé, mais les canaux d'importation ne garantissent pas la qualité, et il existe en plus un grand risque de sécurité, comme des puces implantées avec des structures de chevaux de Troie. Pour cette raison, il est essentiel de disposer de ses propres recherches et développement pour les dispositifs centraux.

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  • Technologie de déplacement du mandrin à air flottant

    Chuck Air Bearing Move ™ Technology

    In driven by Moore's law, from 6 inch 8 inch wafer size 12 "the path of the change, because the wafer diameter, the greater the same wafer can produce the more integrated circuit, both to reduce the cost, but at the moment, and can improve the yield and utilization in the wafer test especially the manual testing will produce an inevitable question: from the wafer after a test chip moves to the next is likely to become more and more far distance of the chip under test, mobile is also likely to become more and more high frequency, and wafer test at the same time also has the characteristics of high precision, the current is usually a few microns or even a few microns.

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