Solutions de station de sonde
Les tests de tranches constituent une étape essentielle dans l'industrie de la fabrication de puces et représentent l'une des principales méthodes statistiques pour évaluer le rendement des puces. Avec l'augmentation progressive du diamètre des tranches et de leur densité, la complexité et le coût des tests de tranches deviennent de plus en plus élevés. Cela implique que les puces nécessitent des temps de test plus longs ainsi que des dispositifs mécaniques et des systèmes informatiques plus sophistiqués pour effectuer les tests, analyser et surveiller les résultats.
L'objectif fondamental des tests de tranches est de distinguer la qualité des puces et de permettre aux puces qualifiées de poursuivre leur processus de conditionnement. Pour garantir une évaluation efficace des fonctions et du rendement des puces, les fabricants d'emballages et d'équipements doivent explorer en permanence de nouvelles solutions afin de développer des méthodes de test à haute précision, haute efficacité et faible coût. Ces méthodes doivent également répondre aux exigences des nouveaux processus d'assemblage pour détecter les tranches. Ces exigences entraîneront d'importantes évolutions des équipements et des processus.
Les bancs d'essai de sondage de tranches jouent un rôle essentiel en tant que liaison intermédiaire entre les équipements de test, la technologie des semi-conducteurs et les testeurs. Ils permettent d'effectuer automatiquement les tests des paramètres électriques et des fonctions des circuits intégrés et des différents transistors. Avec la demande croissante pour des produits électroniques à hautes performances, multifonctionnels, rapides, miniaturisés et économes en énergie, ainsi que pour des coûts réduits, il devient nécessaire d'intégrer davantage de fonctions dans une seule puce et de réduire encore leur taille. À l'avenir, les tranches de grand diamètre et les tests à haute efficacité constitueront les principales orientations de développement des bancs d'essai de sondage de tranches.
Par conséquent, les bancs de sondage manuels traditionnels et semi-automatiques ne sont plus en mesure de répondre aux exigences actuelles. À leur place, des bancs d'essai de sondage de tranches entièrement automatiques, caractérisés par leur rapidité, leur précision, leur haut niveau d'automatisation et leur grande fiabilité, sont désormais adoptés pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs.
Technologie High-Performance™
Type de technologie : Brevet d'invention
Numéro de demande de brevet : 201910551106.3
La technologie High-Performance™ offre une table de sondage entièrement automatique et un équipement de test de tranches automatiques hautement stables. Grâce à une structure multi-renforcée assurant une grande stabilité, cette technologie résout le problème des vibrations de l’équipement lors des tests de tranches, qui peuvent affecter la précision des mesures. Elle garantit ainsi la stabilité des mouvements et la précision de la table de sondage pendant les tests de tranches.