Notre site web utilise des cookies fournis par nous et par des tiers. Certains cookies sont nécessaires au fonctionnement du site, et vous pouvez ajuster d'autres cookies à tout moment, en particulier ceux qui nous aident à comprendre la performance。

J'accepte
Nom:
Numéro de téléphone*
Nom de l'entreprise:
Adresse e-mail*
Pays*
Message:

Solutions de station de sonde

Technologie de mesure entièrement automatique pour station de sondage

Technologie de mesure entièrement automatique pour station de sondage

Mesure de station de sondage automatique | Équipements de test au niveau des tranches de silicium | SEMISHARE
Les équipements de mesure de station de sondage entièrement automatiques et de test au niveau des tranches de silicium de SEMISHARE permettent d'améliorer considérablement l'efficacité des tests tout en réduisant les coûts.

Faire progresser les tests des semi-conducteurs : les solutions innovantes de mesure de stations de sondage de SEMISHARE

Dans le paysage en constante évolution de la fabrication de semi-conducteurs, l'importance de tests précis et fiables ne peut être sous-estimée. À mesure que les puces deviennent plus petites, plus complexes et plus puissantes, le besoin de technologies avancées de mesure de stations de sondage et de tests au niveau des tranches n’a jamais été aussi grand. Pionnier dans les solutions de test des semi-conducteurs, SEMISHARE se positionne à la pointe de cette révolution technologique, en proposant des systèmes de sondage et des équipements de test au niveau des tranches qui redéfinissent l'industrie.

L’évolution des tests de sondage au niveau des tranches

Les tests de sondage des tranches ont parcouru un long chemin depuis leurs débuts. Aujourd’hui, ils constituent une étape essentielle du processus de fabrication des semi-conducteurs, permettant aux fabricants d'identifier et de corriger les défauts avant l'encapsulation des puces.

Un système de mesure de station de sondage est un équipement sophistiqué conçu pour évaluer les caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs au niveau des tranches. Il agit comme interface critique entre la tranche et les instruments de test, permettant des mesures et des analyses précises.

L’importance des tests au niveau des tranches

Les tests au niveau des tranches offrent des avantages majeurs :

  1. Détection précoce des défauts : Identification des dies défectueux avant encapsulation.
  2. Amélioration du rendement : Optimisation des processus pour de meilleurs rendements.
  3. Réduction des coûts : Les tests au niveau des tranches sont plus économiques que les tests sur puces encapsulées.
  4. Caractérisation des performances : Analyse détaillée des performances des dispositifs.

Le système de sondage de SEMISHARE : une solution avancée

Le système de sondage de SEMISHARE est conçu pour répondre aux exigences modernes des tests semi-conducteurs, offrant une précision, une vitesse et une fiabilité inégalées.

Caractéristiques principales :

  • Sondage de haute précision pour des pads aussi petits que 30 microns.
  • Tests multi-sites pour augmenter le débit.
  • Contrôle de température de -60°C à 300°C.
  • Alignement automatique précis.
  • Configuration flexible pour s’adapter à différents besoins.

Station de sondage automatique : révolutionner les tests au niveau des tranches

Face à une demande croissante pour des tests rapides et efficaces, SEMISHARE a développé une station de sondage automatique avancée.

Avantages clés :

  1. Opération entièrement automatisée.
  2. Débit élevé, capable de tester des milliers de dies par heure.
  3. Précision exceptionnelle grâce à des systèmes de positionnement avancés.
  4. Programmes de test personnalisables.
  5. Analyse des données en temps réel.

Avec SEMISHARE comme partenaire technologique, les fabricants de semi-conducteurs peuvent atteindre de nouveaux niveaux de précision et d'efficacité dans leurs processus de test, tout en réduisant les coûts et en augmentant la fiabilité des produits.

Pour plus d'informations, rendez-vous sur notre site Web : https://www.semishareprober.com/.


Contexte technique

Les tests de tranches constituent une étape essentielle dans l'industrie de la fabrication de puces et représentent l'une des principales méthodes statistiques pour évaluer le rendement des puces. Avec l'augmentation progressive du diamètre des tranches et de leur densité, la complexité et le coût des tests de tranches deviennent de plus en plus élevés. Cela implique que les puces nécessitent des temps de test plus longs ainsi que des dispositifs mécaniques et des systèmes informatiques plus sophistiqués pour effectuer les tests, analyser et surveiller les résultats.

L'objectif fondamental des tests de tranches est de distinguer la qualité des puces et de permettre aux puces qualifiées de poursuivre leur processus de conditionnement. Pour garantir une évaluation efficace des fonctions et du rendement des puces, les fabricants d'emballages et d'équipements doivent explorer en permanence de nouvelles solutions afin de développer des méthodes de test à haute précision, haute efficacité et faible coût. Ces méthodes doivent également répondre aux exigences des nouveaux processus d'assemblage pour détecter les tranches. Ces exigences entraîneront d'importantes évolutions des équipements et des processus.


Défis rencontrés


Les bancs d'essai de sondage de tranches jouent un rôle essentiel en tant que liaison intermédiaire entre les équipements de test, la technologie des semi-conducteurs et les testeurs. Ils permettent d'effectuer automatiquement les tests des paramètres électriques et des fonctions des circuits intégrés et des différents transistors. Avec la demande croissante pour des produits électroniques à hautes performances, multifonctionnels, rapides, miniaturisés et économes en énergie, ainsi que pour des coûts réduits, il devient nécessaire d'intégrer davantage de fonctions dans une seule puce et de réduire encore leur taille. À l'avenir, les tranches de grand diamètre et les tests à haute efficacité constitueront les principales orientations de développement des bancs d'essai de sondage de tranches.

Par conséquent, les bancs de sondage manuels traditionnels et semi-automatiques ne sont plus en mesure de répondre aux exigences actuelles. À leur place, des bancs d'essai de sondage de tranches entièrement automatiques, caractérisés par leur rapidité, leur précision, leur haut niveau d'automatisation et leur grande fiabilité, sont désormais adoptés pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs.


Résumé technique

Technologie High-Performance™

Type de technologie : Brevet d'invention
Numéro de demande de brevet : 201910551106.3

La technologie High-Performance™ offre une table de sondage entièrement automatique et un équipement de test de tranches automatiques hautement stables. Grâce à une structure multi-renforcée assurant une grande stabilité, cette technologie résout le problème des vibrations de l’équipement lors des tests de tranches, qui peuvent affecter la précision des mesures. Elle garantit ainsi la stabilité des mouvements et la précision de la table de sondage pendant les tests de tranches.

Cas d'application


  • SEMISHARE A12 : Station de Sondage Automatique Complète