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Probe Station System
{{item.CategoryName}}:
{{item1.TheFilterCriteria}}
Présentation des produits Structure fonctionnelle Spécifications techniques Téléchargements
Système d'essai à effet Hall

Présentation des produits

Le système d'essai à effet Hall intègre des instruments de source de haute précision de la série Keithley 2400/2600 et une plate-forme à haute et basse température Polaris de Semishare. Il est conçu selon la loi de van der Pauw et peut être utilisé pour mesurer avec une grande précision des paramètres des matériaux semi-conducteurs tels que le type de porteur (type P/type N), la concentration de porteurs, la mobilité, la résistivité, le coefficient de Hall, etc. Il convient aux matériaux semi-conducteurs tels que Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP et GaN.

Informations de base

Numéro de produit HALL Environnement de travail Windows98 / ME / 2000 / NT/XP environment
Besoins en énergie / Mode de contrôle /
Dimensions du produit / Poids de l'équipement /

Domaines d'application

Le système d'essai à effet Hall est un système logiciel intégré, destiné à mesurer avec une haute précision divers matériaux semi-conducteurs.

Caractéristiques techniques

Caractéristiques techniques

Caractéristiques du produit
● Plate-forme de test keithley à la pointe de l'industrie
● Instruments de source de haute précision, assurant des mesures précises
● Conception modulaire, performances stables et entretien facile
● Fonctions logicielles riches, opération pratique et flexible
● Interface visuelle, permettant une analyse claire des données
● Environnement variable à haute/basse température, permettant des tests de fiabilité efficaces

Title

Model HALL series
Specification
Brief introduction

This system is integrated with Keithley 2400 / 2600 series high precision source meter and Semishare Polaris high

and low temperature platform. It is designed by using The Van Der Pauw Law for high precision measurement of

the carrier types of semiconductor materials (P type / N type),Carrier concentration, Mobility ratio, Resistivity,

Hall coefficient and other parameters test, Can be applied to various materials such as Si,SiGe,SiC,GaAs,

InGaAs,InP,GaN etc.

Software operating system Under the environment of Windows 98 / ME / 2000 / NT / Xp
Effective current output range 6nA~100mA
Effective voltage measurement range -5~5V
Carrier concentration(/cm3) 107 – 1021
Mobility (cm2/Vs) 1~107
Resistivity (Ohm.cm) 10-4 - 107
A/B ratio Ok
RHD(cm3/C) Ok
RHC(cm3/C) Ok
RH(cm3/C) Ok
Sheet Resistance(Ohm) Ok
Temperature Temperature (k): normal temperature and
77k , two temperature points
Option: 77k~500k 0. 1 degrees Celsius
accuracy, can be set by software
Instrument size and weight Mainframe size H: 89mm × W: 213mm × L: 370mm
Weight 3.21KG
Working environment requirements 0°–50°C, 70%R.H.
Storage environment requirements –25°C to 65°C
Dimention of the Van der pauw rule
terminal converter
200×120×110 mm (W×H×D)
Net weight 7.7KG
Measuring material All semiconductor films such as Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (p-type and n-type)
Characteristic
Keithley test platform Feature-rich software
Ultra-high precision source meter User friendly UI
Modular design High and low temperature environment

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