Panoramica del prodotto
La stazione semiautomatica della sonda ad alta e bassa temperatura sotto vuoto serie SEMIHARE CGX è progettata per la ricerca e le applicazioni di produzione specifiche e può completare rapidamente test di alta precisione su un singolo wafer in un ambiente vuoto con intervalli di temperatura di 77K-450K (azoto liquido) e 10K-450K (elio liquido).
Informazioni di base
| Numero del prodotto | CGX8 | Ambiente di lavoro | Vacuum High-Low Temperature Environment |
| Esigenze energetiche | AC220V,50~60HZ | Modalità di controllo | Semi-Automatic |
| Dimensioni del prodotto | 1150*1450*1800mm | Peso del dispositivo | About 1000KG |
Direzioni applicative
Secondo la classificazione dei campioni di prova: prova del wafer, prova del LED, prova del dispositivo di alimentazione, prova del MEMS, prova del PCB, prova del pannello LCD, prova della cella solare, prova di resistività superficiale del materiale Secondo la classificazione delle applicazioni: prova RF, prova dell'ambiente ad alta temperatura, prova a bassa corrente (livello 100fA), prova I-v/c-v/p-iv, alta tensione, prova ad alta corrente, prova dell'ambiente del campo magnetico, prova dell'ambiente delle radiazioni
Caratteristiche tecniche
Sistema di integrazione software sviluppato indipendentemente con maggiore compatibilità
● Supporta il controllo semiautomatico (può essere testato manualmente o automaticamente)
● Calibrazione automatica del wafer, mappatura automatica del wafer, misurazione automatica della dimensione dello stampo, allineamento automatico e dati di test automatici accessibili da remoto
● Calibrazione automatica del modulo della sonda RF con un solo clic, funzione automatica di cancellazione dell'ago
● Calibrazione adattiva di precisione Chuck a quattro assi con un clic, che supporta la misura del punto del pad a livello di micron
● Supporta test a punto singolo e test continui
● Potenti capacità di archiviazione e elaborazione dei dati
● I risultati delle prove possono essere suddivisi in valori BIN per determinare l'NG del dispositivo
● Funzione di integrazione multi-sistema, in grado di aggiornare autonomamente i sistemi operativi, i sistemi applicativi e i sistemi di test del dispositivo
Microscopio zoom elettrico
Microscopio zoom elettrico veloce e preciso 12: 1, gamma di zoom 0.6X ~ 7.2X, risoluzione dell'immagine 3,05 μm, ingrandimento completo 33X ~ 396X
Sistema CHUCK efficiente per migliorare notevolmente l'efficienza dei test
● Sistema di test CHUCK ad alte prestazioni con velocità operativa ≥40 mm/s, precisione di movimento ≤±1 μm e tempo di indice mobile ≤500 ms. Eccellenti parametri del sistema, a livello leader nel settore, garantiscono un'elevata precisione e stabilità nei test ripetitivi di wafer e dispositivi, migliorando notevolmente l'efficienza complessiva del test.
● Precisione e stabilità del controllo termico superiore a ± 0,1 °C, fornendo test affidabili del wafer in ambienti ad alta e bassa temperatura;
● Design compatto a basso baricentro con movimento a quattro dimensioni, che assicura una velocità di movimento di 40 mm/s mantenendo la stabilità durante l'accelerazione e la decelerazione.
