Sistema di prova dell'effetto Hall

Sistema di prova dell'effetto Hall

Panoramica del prodotto

Il sistema di prova dell'effetto Hall è integrato con un misuratore di sorgente ad alta precisione di serie Keithley 2400/2600 e una piattaforma ad alta e bassa temperatura Semishare Polaris, progettato con la regola van der Pauw. È utilizzato per la misurazione ad alta precisione dei tipi di vettore (tipo P/tipo N), concentrazione del vettore, mobilità, resistenza, coefficiente Hall e altri parametri dei materiali semiconduttori e può essere applicato a materiali semiconduttori come Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ecc.

Informazioni di base

Numero del prodotto	HALL	Ambiente di lavoro	Windows98 / ME / 2000 / NT/XP environment
Esigenze energetiche	/	Modalità di controllo	/
Dimensioni del prodotto	/	Peso del dispositivo	/

Direzioni applicative

Caratteristiche tecniche

Caratteristiche del prodotto

● La piattaforma di test Keithley leader del settore
● Unità di misura sorgente ad altissima precisione per misure precise
● Progettazione modulare, prestazione stabile, e manutenzione facile
● Ricche funzioni software, funzionamento facile e flessibile
● Interfaccia visiva, analisi chiara e concisa dei dati
● Ambiente variabile ad alta e bassa temperatura, realizzando efficacemente test di affidabilità

Model HALL series
Specification

Brief introduction	This system is integrated with Keithley 2400 / 2600 series high precision source meter and Semishare Polaris high and low temperature platform. It is designed by using The Van Der Pauw Law for high precision measurement of the carrier types of semiconductor materials (P type / N type),Carrier concentration, Mobility ratio, Resistivity, Hall coefficient and other parameters test, Can be applied to various materials such as Si,SiGe,SiC,GaAs, InGaAs,InP,GaN etc.
Software operating system	Under the environment of Windows 98 / ME / 2000 / NT / Xp
	Effective current output range	6nA~100mA
	Effective voltage measurement range	-5~5V
	Carrier concentration(/cm3)	10⁷ – 10²¹
	Mobility (cm2/Vs)	1~10⁷
	Resistivity (Ohm.cm)	10^-4 - 10⁷
	A/B ratio	Ok
	RHD(cm3/C)	Ok
	RHC(cm3/C)	Ok
	RH(cm3/C)	Ok
	Sheet Resistance(Ohm)	Ok
	Temperature	Temperature (k): normal temperature and 77k , two temperature points
		Option: 77k~500k 0. 1 degrees Celsius accuracy, can be set by software
Instrument size and weight	Mainframe size	H: 89mm × W: 213mm × L: 370mm
	Weight	3.21KG
Working environment requirements	0°–50°C, 70%R.H.
Storage environment requirements	–25°C to 65°C
Dimention of the Van der pauw rule terminal converter	200×120×110 mm (W×H×D)
Net weight	7.7KG
Measuring material	All semiconductor films such as Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (p-type and n-type)
Characteristic
Keithley test platform	Feature-rich software
Ultra-high precision source meter	User friendly UI
Modular design	High and low temperature environment

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Stazione della sonda

Sistema di test

Sistema di Riparazione Laser

Servizi di test

Accessori