Unsere Website verwendet Cookies, die von uns und Dritten bereitgestellt werden. Einige Cookies sind für den Betrieb der Website erforderlich, und Sie können andere Cookies jederzeit anpassen, insbesondere diejenigen, die uns helfen, die Leistung der。

Ich akzeptiere
Name:
Telefonnummer*
Firmenname:
E-Mail*
Land*
Inhalt:
Deutsch
  • 全球-简体中文
  • Global-English
  • Global-Français
  • Global-Deutsch
  • Globale-Italiano
  • Global-Español
  • Testlösung

    Niedrigtemperatur-Vakuumumgebung

    解决方案
    1.1.1.Technischer Hintergrund

    Mit der Entwicklung der Raumfahrttechnologie sind einige der hochzuverlässigen und leistungsstarken Halbleiterbauelemente, insbesondere die Kernkomponenten der Raumfahrt, zu einem wichtigen Symbol für das Niveau der Luft- und Raumfahrtwissenschaft und -technologie eines Landes geworden. Aufgrund der schwachen Grundlage der integrierten Schaltkreisindustrie in China ist die Halbleiterbauteilproduktion jedoch hauptsächlich auf Importe angewiesen. Dies führt nicht nur zu hohen Importkosten und einem Mangel an Qualitätsgarantie, sondern birgt auch erhebliche Sicherheitsrisiken, wie zum Beispiel Chips mit implantierten Trojaner-Strukturen. Daher ist es unerlässlich, eine eigene Forschung und Entwicklung für die Kernbauteile zu haben.

    1.1.2.Bedürfnisse und Herausforderungen

    Im Entwicklungs- und Fertigungsprozess von Chips ist es notwendig, dass das Gerät extremen Umgebungen wie Kälte, Vakuum, magnetischen Partikeln und Photonstrahlung im Weltraum standhält. Dazu muss ein hoch- und niedrigtemperiertes Vakuum-Magnetfeld, Lichtteilchenstrahlung und andere Umgebungen für das Gerät geschaffen werden. Das Gerät muss dann in diesen Bedingungen betrieben werden, um zu beobachten, ob die elektrischen Parameter des Geräts unter verschiedenen Umgebungen normal bleiben.

    3.Lösungen
    • Device Configuration

    • Testobjekt

      Wafers up to 4inch, materials, device i-v,c-v curves, resistivity, hall test.

    • Testobjekt

      Wafer bis zu 4 Zoll, Materialien, Geräte I-V, C-V-Kurven, Widerstand, Hall-Test.