Testlösung
Der Wafer (CV IV P - IV) Test wird häufig verwendet, um Halbleiterparameter zu messen, insbesondere bei der Wafer-Level-MOSFET-Struktur. Durch die Verwendung von CV P - IV IV-Messungen können auch andere Arten von Halbleiterbauelementen und Prozessmerkmalanalysen durchgeführt werden, einschließlich Bipolartransistoren (BJT), JFETs, organischen photovoltaischen Zellen, MEMS-Geräten, TFT-Monitoren, Photodioden, Kohlenstoffnanoröhren und den grundlegenden Eigenschaften einer Vielzahl anderer Halbleitergeräte. Dieser Test ist sehr gut geeignet für verschiedene Anwendungen, zur Verbesserung der Leistung des Prozesses und der Geräteprüfparameter sowie zur Fehleranalyse der Mechanismen und so weiter.
In den letzten Jahren hat unser Land die Anerkennung und Stärke der Ressourcen für die Halbleiterindustrie verstärkt, wobei das Hardware-Upgrade der Universitätslabore ein wichtiger Schwerpunkt ist. Aufgrund der Tatsache, dass die Ressourcen im Hochschulbereich aus Kostengründen mehr in andere Bereiche fließen, müssen wir jedoch nicht nur sicherstellen, dass die Ausrüstung und die Prüf- und Messstandards von hoher Präzision sind, sondern auch den zukünftigen Wiederverwendungsgrad der Produkte berücksichtigen. Es gilt, die Verschwendung von Ressourcen zu vermeiden. Durch jahrelange Markterfahrungen und Kooperationen in Hochschulen haben wir die folgenden Anforderungen an das Prüfgerät für Bildungsexperimente zusammengefasst.
● Basierend auf den Anforderungen der Universitätslaborumgebung kann die Ausrüstung unter der Voraussetzung eines hochpräzisen Tests Platz sparen.
● Unter der Voraussetzung, dass die Qualität der professionellen Prüfstandards nicht beeinträchtigt wird, können wir wettbewerbsfähigere Preise für die Prüfgerät-Ausstattung anbieten.
● Einfacher zu bedienen
● Minimierung des Schulungsaufwands
● Stabile Struktur und hohe Testgenauigkeit
● Schnelle Erfassung von Messdaten
● Modulare Anpassung, einfache Neukonfiguration und Erweiterung für eine Vielzahl von Anwendungen.
● Starke Anpassungsfähigkeit, bei Bedarf können Geräteupgrades und Funktions-erweiterungen vorgenommen werden.
6-Zoll-Wafer I - V, C - V-Kurven, P - IV-Tests.
Elektrodenpunktmessung über 40 Mikrometer, Leckagemessgenauigkeit innerhalb von 10pA.
